ポート・オルフォード社、OPENSTAR#8482;のベースバンドモジュール開発に着手
２００４年２月９日 カリフォルニア州サンディエゴ ——— セミコンダクタ・テスト・コンソーシアム（ＳＴＣ）は本日、半導体試験装置（ＡＴＥ）業界にミックスド・シグナルの計測機器・サービスを提供しているポート・オルフォード社（ワシントン州ローリングベイ所在）が、ＳＴＣのＯＰＥＮＳＴＡＲＴＭ（オープン・セミコンダクタ・テスト・アーキテクチャ）プラットフォームの仕様に完全に対応するＯＣ８００ＴＭベースバンドＡＷＧ／デジタイザを開発中であることを発表しました。ＯＣ８００ベースバンドＡＷＧ／デジタイザは、１００BaseＴ、ギガビット・イーサネット、ＤＶＤ、デジタルＴＶ、携帯電話のチップといったベースバンド製品のテストにおいて、パーピンの柔軟性と卓越したパフォーマンスをもたらします。
ポート・オルフォード社の社長、Mr. Kevin Fetterlyは、「ＯＰＥＮＳＴＡＲのオープン・アーキテクチャのおかげで、ポート・オルフォード社は、市場リスクと開発コストを最小限におさえつつ、統合性が高くパフォーマンスに優れたミックスド・シグナルのテスト・ソリューションを展開していくことが可能になりました。ＯＰＥＮＳＴＡＲの柔軟性と拡張性は、チップメーカーに費用効果の高いプラットフォームを提供し、投資収益率を最大化するための要となる特徴です。この業界パラダイムの進化の一端を担っていることを嬉しく思います。これから複雑なＩＣをテストする環境は、まちがいなく変わっていくでしょう。ＯＰＥＮＳＴＡＲは、サード・ベンダの幅広いコミュニティに参画を促す初めてのオープン･アーキテクチャーです。」と語りました。
ＯＰＥＮＳＴＡＲのプラットフォームは、今日の先進的なＩＣデバイスを低コストで効率的にテストするため、ハードウェア及びソフトウェアに完全な相互運用性を提供する業界初のオープン・アーキテクチャとしてＳＴＣによって開発され、２００３年に発表されました。ＳＴＣの定める標準仕様にそって開発されたこのアーキテクチャは、すべてのテスト装置のベンダに開放されており、これによってベンダが最良のテスト・ソリューションを顧客に提供することが可能になりました。さらに、ＯＰＥＮＳＴＡＲのプラットフォームは伸縮可能で柔軟性に富んでおり、さまざまな条件にあわせて対応するべくパフォーマンスと効率性を拡張させることが可能です。
ＳＴＣのマネージャー兼秘書である Fred Bode氏は、「ＯＰＥＮＳＴＡＲのオープン・アーキテクチャは、業界が力をあわせてすぐれたテスト・ソリューションを開発するための能力を引き出します。今回のＯＣ８００開発は、その力が確かなものであることが認められました。」と指摘しました。今回のポート・オルフォード社による開発は、アーキテクチャの仕様、ハードウェアやソフトウェアの開発キット、リファレンス・デザイン、テクニカルサポート・センターを盛りこんだ、ＳＴＣによるソリューション開発支援ツールの有効性を裏付けるものとなります。
ポート・オルフォード社について
ポート・オルフォード社は、半導体試験装置（ＡＴＥ）業界にミックスド・シグナルの計測機器・サービスを提供しています。同社はミックスド・シグナルのエンジニアリングや製造におけるテストに対応し、付加価値の高い、知的財産性の高いソリューションに焦点を当てています。詳しい情報はhttp://www.port-orford.com/をご覧ください。
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