Global Openstar Conference 2006 開催のご案内
STC (Semiconductor Test Consortium）は、2006年3月6日(5日Pre-Conference)から、第1回 Global OPENSTAR Conference (GOC)をカルフォルニア州モントレー市にて開催致します。この会議は、全世界から、STC会員や業界を代表するテスターメーカー及び半導体業界関係者が一同に会し、"オープンアーキテクチャーシステムの発展"について、その技術やビジネスに関する発表や議論を行う内容となっております。世界各地の業界関係者と議論できる良い機会ですので、STCメンバーかどうかに関わらず、業界関係各社/アナリスト/学術団体等から、多数のご参加をお待ち申し上げております。
記
日時： 2006年3月5日〜8日
場所： Portola Plaza Hotel （アメリカ-カリフォルニア州モントレー市）
予定議題：
3月5日(日)- Pre-Conference (17:00より) 特別講演
浅田 邦博(東京大学大規模集積システム設計教育研究センター長)
3月6日(月)- 業界の未来
基調講演/STC・オープンアーキテクチャーへのメッセージ/
業界からのプレゼンテーション
3月7日(火)- サプライベースの変化
STC 価値貢献/規格化の機会/アナリストからの意見/ソフトウェア開発/STIL/
ユーザーソフトウェア/ベンダープレゼンテーション/ベンダーRoadmap
3月8日(水)- ユーザーの期待と要求
ユーザーの見解/オープンアーキテクチャーの効果/STC の概要/
大学プログラム/エンドユーザーからの
プレゼンテーション
以上
また、STCインターネット・ホームページhttp://www.semitest.org/site/GOC/index_htmlでも、Global
OPENSTAR Conferenceについて掲載しておりますのであわせてご覧ください。
（インターネットから詳細の確認や参加申込みをしていただけます。）
お問い合わせ:
STC日本事務局担当 今野 篤 akonno@semitest.org